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Parallel Identity Testing for Skew Circuits with Big Powers and Applications

机译:具有大功率和功率的偏斜电路的并行识别测试   应用

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摘要

Powerful skew arithmetic circuits are introduced. These are skew arithmeticcircuits with variables, where input gates can be labelled with powers $x^n$for binary encoded numbers $n$. It is shown that polynomial identity testingfor powerful skew arithmetic circuits belongs to $\mathsf{coRNC}^2$, whichgeneralizes a corresponding result for (standard) skew circuits. Twoapplications of this result are presented: (i) Equivalence ofhigher-dimensional straight-line programs can be tested in $\mathsf{coRNC}^2$;this result is even new in the one-dimensional case, where the straight-lineprograms produce strings. (ii) The compressed word problem (or circuitevaluation problem) for certain wreath products of finitely generated abeliangroups belongs to $\mathsf{coRNC}^2$.
机译:介绍了强大的偏斜运算电路。这些是带有变量的偏斜算术电路,其中输入门可以用二进制编码数字$ n $的幂$ x ^ n $标记。结果表明,强大的偏斜算术电路的多项式恒等性检验属于$ \ mathsf {coRNC} ^ 2 $,它概括了(标准)偏斜电路的相应结果。给出了该结果的两个应用:(i)可以在$ \ mathsf {coRNC} ^ 2 $中测试高维直线程序的等价性;在产生一维直线程序的一维情况下,此结果甚至是新的字符串。 (ii)有限生成的阿贝尔群的某些花环积的压缩词问题(或电路评估问题)属于$ \ mathsf {coRNC} ^ 2 $。

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